【儀表網(wǎng) 儀表研發(fā)】傳統(tǒng)的熒光顯微成像技術(shù)在分辨率上有一定的限制，而激輻射損耗技術(shù) (Stimulated Emission Depletion Microscopy, STED)等超高分辨成像技術(shù)，成為了研究人員們尋找解決方案的突破口。
 

　　通過(guò)借鑒以往的經(jīng)驗(yàn)，并不斷摸索新可能，西安交大的科研人員們?cè)诟叻直娉上耦I(lǐng)域取得重要進(jìn)展。
 

　　據(jù)悉，西安交通大學(xué)孟令杰教授團(tuán)隊(duì)針對(duì)商用染料聚集態(tài)發(fā)光亮度低及易光漂白等問(wèn)題，開發(fā)了系列具有高亮度、大斯托克斯位移、優(yōu)異光學(xué)穩(wěn)定性能的有機(jī)熒光材料。在這一基礎(chǔ)上，他們結(jié)合STED超高分辨成像技術(shù)，實(shí)現(xiàn)了構(gòu)筑材料在亞細(xì)胞結(jié)構(gòu)等的精準(zhǔn)成像和實(shí)時(shí)動(dòng)態(tài)追蹤。
 

　　摘要中提出，STED技術(shù)是一種很有前途的熒光顯微技術(shù)，它可以在納米水平上檢測(cè)無(wú)法分辨的結(jié)構(gòu)，從而在材料科學(xué)和生物研究中獲得更高的成像分辨率。然而，除了顯微鏡的優(yōu)化，發(fā)光材料在STED納米技術(shù)中對(duì)于獲得超高分辨率(小于100 nm)的成像、可視化甚至長(zhǎng)期跟蹤也具有重要意義，但這一點(diǎn)很少被總結(jié)。
 

　　論文文綜述了近年來(lái)用于超分辨率成像的STED熒光團(tuán)的研究進(jìn)展，包括無(wú)機(jī)熒光團(tuán)、熒光蛋白、有機(jī)發(fā)光材料、聚集誘導(dǎo)發(fā)光(AIE)和熒光納米顆粒。這些上述的STED熒光團(tuán)的特性也被包括在內(nèi)并進(jìn)行比較，以提供對(duì)發(fā)光材料的特性和它們?cè)赟TED成像中的性能之間的關(guān)系的深入理解。