近日，中國計(jì)量院成功研制出新型光學(xué)二維圖形圓度測量裝置，并通過了專家驗(yàn)收。

該裝置解決了高精度影像測頭坐標(biāo)測量機(jī)的溯源問題，將圓度測量的標(biāo)準(zhǔn)方法與影像探測技術(shù)創(chuàng)新性的結(jié)合在儀器，能夠?qū)ΧS圓圖形高精度圓度校準(zhǔn)。該裝置是我國坐標(biāo)測量機(jī)不斷發(fā)展的結(jié)果，是滿足坐標(biāo)測量機(jī)的校準(zhǔn)的新型儀器，能夠進(jìn)一步推動(dòng)坐標(biāo)測量機(jī)發(fā)展。

圓度誤差測量方法主要用于形狀誤差評(píng)價(jià)，標(biāo)準(zhǔn)圓圖形一般被用作評(píng)價(jià)探測誤差的標(biāo)準(zhǔn)器。圓度誤差測量的標(biāo)準(zhǔn)和傳統(tǒng)方法是采用接觸法，利用圓度儀進(jìn)行測量，但是被測技術(shù)僅限于三維。面對(duì)標(biāo)準(zhǔn)二維圓圖形圓度的測量則顯得十分無力，只能采用影像坐標(biāo)法對(duì)二維影像測量儀進(jìn)行校準(zhǔn)。

將二者創(chuàng)新性結(jié)合起來，解決了零高度二維圖形的圓度測量問題，因此實(shí)現(xiàn)了對(duì)高精度標(biāo)準(zhǔn)圓圖形的圓度校準(zhǔn)。研究人員逐漸攻關(guān)了光學(xué)系統(tǒng)數(shù)值孔徑、光學(xué)傳感器噪聲等對(duì)分辨力和測量能力的限制等難題，終于研制成功新型光學(xué)二維圖形圓度測量裝置，為光學(xué)影像測量設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)器的溯源提供了新途徑。